应用领域
Application area
联系我们
contact us

上海测宇科学仪器科技有限公司
地 址:上海市控江路1688卫百辛大厦702室
联系人:孟先生 13585785050
总 机:021-65142150,65029510
传 真:021-65029530
邮 编:200092
E-mail:738304336@qq.com mengjiaming@rigaku.com.cn
节假日请拨打: 13585785050
您当前位置:网站首页 > 应用领域
织构和极图
在材料科学中,织构表述样品晶体取向分布。 样品这些取向是随机的被称为随机织构。如果晶体取向不随机,而是有些择优取向,样品则有弱,强和中等织构。织构程度取决于晶体择优取向的百分比。织构存在于几乎全部工程材料中,且对材料性能的影响很大。织构经常用"极图"来表示。
系统
-
高功率 (18 kW) θ/θ XRD: TTRAX III
-
微区XRD: RAPID II
-
多目的高性能XRD: Ultima IV
-
全自动XRD: SmartLab®
在材料科学中,织构表述样品晶体取向分布。 样品这些取向是随机的被称为随机织构。如果晶体取向不随机,而是有些择优取向,样品则有弱,强和中等织构。织构程度取决于晶体择优取向的百分比。织构存在于几乎全部工程材料中,且对材料性能的影响很大。织构经常用"极图"来表示。
系统
- 高功率 (18 kW) θ/θ XRD: TTRAX III
- 微区XRD: RAPID II
- 多目的高性能XRD: Ultima IV
- 全自动XRD: SmartLab®