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半导体计量
理学是设计和制造以X射线为基础测量工具的前驱者和领导者之一。在半导体领域有将近30年的市场先导作用,我们的产品家族从工厂生产控制到产品研发用于薄膜和材料的表征。
系统
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实验室高分辨XRD: SmartLab®, Ultima IV
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高功率 θ/θ测角仪系统: TTRAX III
理学是设计和制造以X射线为基础测量工具的前驱者和领导者之一。在半导体领域有将近30年的市场先导作用,我们的产品家族从工厂生产控制到产品研发用于薄膜和材料的表征。
系统
- 实验室高分辨XRD: SmartLab®, Ultima IV
- 高功率 θ/θ测角仪系统: TTRAX III
