Rietveld 分析

　　Hugo Rietveld 发明，全谱拟合结构精修被广泛接受，它是几乎所有晶体材料结构分析极具价值的方法。Rietveld分析类似于X射线荧光（XRF）的基本参数法。 这个软件细化各种参数——包括：晶格参数，峰的宽度和形状，择优取向——推导计算衍射图样。一旦派生图样与位置样品数据几乎相同，可获得样品各种属性包括：精确定量信息，晶体尺寸。提炼图样的过程是精密计算的过程，要求数分钟内计算出多组分混合结果。与传统定量方法相比，Rietveld分析是先进的，无需标准样品即可得到±1%以内的精确结果。在此之前，使用粉末衍射进行混合材料的无标精确定量分析是几乎不可能的。

系统

• 高功率θ/θ测角仪系统: TTRAX III
• 微区衍射: RAPID II
• 台式X射线衍射仪: MiniFlex600
• 高性能XRD: Ultima IV
• 多目的高分辨XRD: SmartLab®