残余应力分析

残余应力可能产生于材料的生产过程中或在运作多年的结构中积累。在这两种情况下，这种压力可以对产品质量，耐久性和寿命产生严重的负面影响。 在质量控制和预测产品寿命中残余应力的精确检测是尤为重要的。
X射线衍射（XRD）是目前无损精确测量残余应力的方法之一。此外，XRD提供了高分辨率非接触测量方式。定期使用XRD检测移动部件表面或特别压力点的残余应力。为了满足这些要求，理学提供多种系统，自由组合并满足各种需要。

系统

• 全自动X射线应力分析仪：AutoMATEIIMS
• X射线应力分析仪: PSPC/MSF, MSF/PSF-3M
• 微区XRD: RAPID II
• 多目的XRD: Ultima IV