应用领域
Application area
联系我们
contact us

上海测宇科学仪器科技有限公司
地 址:上海市控江路1688卫百辛大厦702室
联系人:孟先生 13585785050
总 机:021-65142150,65029510
传 真:021-65029530
邮 编:200092
E-mail:738304336@qq.com mengjiaming@rigaku.com.cn
节假日请拨打: 13585785050
您当前位置:网站首页 > 应用领域
颗粒尺寸及形状
纳米粒子和纳米晶体材料的粒径大小,形状和结构,包括表面积,溶解度,反射率等影响其物理和化学特性。晶粒尺寸是通过测量晶胞内特定平面的衍射图样中一定宽度的X射线衍射峰来确定的。晶体尺寸与FWHM负相关:峰越窄,晶体尺寸越大。由于晶域的周期性, X射线强度越强,峰越尖锐。如果晶体无缺陷且呈周期性,X射线产生衍射以同样角度穿过多层样品。如果晶体随机排列,或周期性较差,其结果是一个较宽的峰。
系统
-
高功率 (18 kW) θ/θ XRD: TTRAX III
-
多目的高性能XRD: Ultima IV
-
全自动XRD: SmartLab®
纳米粒子和纳米晶体材料的粒径大小,形状和结构,包括表面积,溶解度,反射率等影响其物理和化学特性。晶粒尺寸是通过测量晶胞内特定平面的衍射图样中一定宽度的X射线衍射峰来确定的。晶体尺寸与FWHM负相关:峰越窄,晶体尺寸越大。由于晶域的周期性, X射线强度越强,峰越尖锐。如果晶体无缺陷且呈周期性,X射线产生衍射以同样角度穿过多层样品。如果晶体随机排列,或周期性较差,其结果是一个较宽的峰。
系统
- 高功率 (18 kW) θ/θ XRD: TTRAX III
- 多目的高性能XRD: Ultima IV
- 全自动XRD: SmartLab®