应用领域
Application area
联系我们
contact us

上海测宇科学仪器科技有限公司
地 址:上海市控江路1688卫百辛大厦702室
联系人:孟先生 13585785050
总 机:021-65142150,65029510
传 真:021-65029530
邮 编:200092
E-mail:738304336@qq.com mengjiaming@rigaku.com.cn
节假日请拨打: 13585785050
您当前位置:网站首页 > 应用领域
In-plane 衍射
In-plane衍射对于薄膜表征非常重要。如配置Bragg-Brentano标准测角仪,用于测量平行于样品表面的晶面,X射线穿透样品到一定深度,产生衍射;而若样品层太薄,X射线则完全透过样品而不产生衍射。这种情况下,应使用in-plane衍射。 In-plane衍射具有以下两个特点:
1.光束穿透深度有限,约100 nm。
2.该技术测量几乎垂直样品表面的晶面,是其他技术无法达到的。
系统
-
自动 in-plane XRD: SmartLab®
-
高性能in-plane XRD: Ultima IV
In-plane衍射对于薄膜表征非常重要。如配置Bragg-Brentano标准测角仪,用于测量平行于样品表面的晶面,X射线穿透样品到一定深度,产生衍射;而若样品层太薄,X射线则完全透过样品而不产生衍射。这种情况下,应使用in-plane衍射。 In-plane衍射具有以下两个特点:
1.光束穿透深度有限,约100 nm。
2.该技术测量几乎垂直样品表面的晶面,是其他技术无法达到的。
系统
- 自动 in-plane XRD: SmartLab®
- 高性能in-plane XRD: Ultima IV