结构

X射线荧光光谱仪（XRF）和X射线衍射仪(XRD)两种常用技术无损确定未知样品组成。X射线荧光光谱仪提供从B到U的成分信息，含量范围从ppm到百分含量。使用基本参数法，XRF提供无标定量分析。X射线衍射提供相结构识别和区分样品中主要，次要，和微量元素的化合物。XRD分析包括矿物名称，化学式，晶体系统，并参考ICDD数据库。XRD使用Rietveld分析也可简单获得定量信息。