解析式能量色散X射线荧光分析仪

EDXRF技术适用于广泛的元素分析应用

能量色散X射线荧光（EDXRF）是一种常规的分析技术，广泛用于各种样品类型中主要元素及微量元素的半定量和精确定量分析。其广泛的适用性源于：快速、准确、无损的多元素分析；元素分析范围涵盖从钠（Na）至铀（U）；含量分析范围从低的PPM级到高的百分含量（wt%）。

日本理学NEX CG功能多样，可以实现各种类型样品的常规分析。从均匀、低粘性的液态样品，到固态、金属、泥浆、粉末和胶状样品。特别适用于对成分完全未知的样品进行半定量分析。NEX CG强大的分析能力，灵活、方便的使用性，使其在科研、工业及现场监测领域有着广泛的需求。

EZ分析界面使日常分析更为简单

日本理学NEX CG分析软件的开发，基于强大的功能性和方便的使用性。特别适合非技术背景的操作人员。

RPF-SQX软件减少对标样的需求

理学NEX CG配置先进的RPF-SQX分析软件。采用理学峰形拟合技术(RPF)，对各类样品在无需标样的情况下实现半定量分析，在有标样的情况下实现全定量分析。结合理学著名的散射FP方法，分析软件可以自动估算无法测量的轻元素（H-F）的含量并做出适当的修正。

采用二次靶激发方式，偏振光使分析灵敏度获得改善

与传统的EDXRF分析仪不同，理学NEX CG采用二级靶激发方式，取代了传统的直接激发。通过独特设计的解析式光学结构，所产生的X射线偏振光，使接收信号的耦合度大大增强，从而极大地提高了信噪比，使分析灵敏度获得改善。理学NEX CG采用二次靶激发，使背景噪声显著降低，同时增强了元素的谱线峰值的高度。其结果使光谱仪分析能力增强，不仅能够分析常规的痕量元素，甚至对较难分析的样品类型也能从容应对。理学NEX CG有多达5个偏振二级靶可供选择，可分析的元素涵盖钠（Na）至铀（U），并且均具有上佳的灵敏度。

硅漂移检测器使分析精度更为出众

硅漂移检测器（SDD）是目前较先进的能谱信号接受器件，具有较高的计数率和极好的分辨率。这些特性，使NEX CG能够在尽可能短的测试时间里得到高精度的分析结果。 （SDD检测器工作原理简图：同心圆结构，使其对X射线具有非常高的计数速率）

...